В России разрабатывают микроскоп для поиска дефектов в микроэлектронике
За стенами компании «Наноэлектроника» ведётся работа по разработке растрового электронного микроскопа (РЭМ), который необходим для выявления эффектов в разных материалов. Это могут быть как металлы и сплавы, так и полупроводники. В компании отметили, что данный шаг нацелен на снижение зависимости от иностранных аналогов. Сейчас её специалисты занимаются тестированным созданного макета. Telegram-канал создателя Трешбокса про технологии «Накопленный