Разработка отечественных специалистов поможет контролировать время «жизни» сенсоров, исходя из планируемой лучевой нагрузки. Рассказываем, в чем ее особенность.
Ученые Томского государственного университета провели исследование влияния ионизирующего излучения на сенсоры из арсенида галлия, компенсированного хромом. Они также разработали новую лабораторную методику и создали программу для прогнозирования срока службы сенсоров в зависимости от ожидаемой радиационной нагрузки. Информация об этом опубликована на сайте учебного заведения.
Разработанный подход может использоваться для предсказания долговечности различных дорогостоящих устройств, включая многоэлементные детекторы. Их применяют в научных исследованиях в областях физики высоких энергий и физики элементарных частиц. Программа позволяет проводить вычисления радиационной устойчивости детекторов к воздействию бета-частиц в широком энергетическом спектре.
На практике предложенная методика может применяться для оценки времени до отказа многоэлементных детекторов, входящих в состав исследовательской аппаратуры, такой как просвечивающие электронные микроскопы.
«Мы проанализировали экспериментальные результаты по исследованию радиационной стойкости наших сенсоров к воздействию высокоэнергетических электронов (бета-частиц) и разработали методику расчета зависимости времени жизни носителей заряда от дозовой нагрузки», — комментирует один из авторов статьи, научный сотрудник центра «Перспективные технологии в микроэлектронике» ТГУ Антон Тяжев.
Источник: hi-tech.mail.ru