Учёные ПГУ разработали технологию, которая позволяет «заглянуть» внутрь электроники для контроля качества
Учёные из Пензенского государственного университета разработали новую математическую модель, позволяющую «заглянуть» внутрь объектов из диэлектрических материалов и обнаружить их дефекты, не повреждая их. По информации Минобрнауки РФ, модель можно применять на производственных линиях для быстрого и точного контроля качества.
Метод основан на анализе отражения и пропускания электромагнитных волн, которые помогают выявить внутренние неоднородности и дефекты. Один из авторов проекта, Андрей Лапич, отметил, что использование такого подхода позволяет точно определить структуру объекта на основе математического моделирования и двухэтапного анализа. Лапич добавил, что главное преимущество метода — это возможность свести сложные расчёты к линейному уравнению, позволяющему точно определить диэлектрические свойства материалов.
Этот способ особенно полезен для областей, где доступ к внутренней структуре объектов без их повреждения затруднён. По словам разработчиков, технология идеально подходит для контроля большого количества образцов на конвейере, позволяя быстро и безопасно выявлять скрытые изъяны и дефекты в изделиях.
Источник: www.ferra.ru
Похожие новости:
Сверхпроводящий токамак | Рентген в смартфоне | Теневая камера | Контакты для 2D-чипов
Обзор изменений в законодательстве за июль 2024 года
Атомная батарейка | Карманный 3D-принтер | Китайский Мега-Коллайдер | Робот-водитель
Новая модель нейрона | Ракетный двигатель от ИИ | Российский квантовый процессор | Солнечное топливо